• YME-2062 # 透射支架

    YME-2062 # 透射支架

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  • YME-2063系列 # 光學反射支架

    YME-2063系列 # 光學反射支架

    簡介反射樣品支架可用于固體和粉末樣品材料多角度反射率的測量。..

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  • YSM-8101-02系列 UV-NIR微型光譜儀，180nm-1100nm可選，光學分辨率優化至0.35nm，濱松S11639，信噪比600:1，動態范圍10000:1，A/D16bit

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  • YSM-8101-01系列 # VIS-NIR微型光譜儀，315nm-1100nm可選，光學分辨率優化至0.35nm 東芝TCD1304探測器，信噪比300:1，動態范圍300:1，A/D16bit

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